山下 浩史 | 株式会社東芝
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概要
関連著者
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山下 浩史
株式会社東芝
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山下 浩史
株式会社東芝 研究開発センター
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中村 信男
株式会社東芝 セミコンダクター社 システムlsi設計技術統括部
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山下 浩史
(株)東芝 セミコンダクター社 マイクロエレクトロニクス技術研究所
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山下 浩史
株式会社東芝、研究開発センター、先端半導体デバイス研究所
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中村 信男
株式会社東芝 システムlsi統括部
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野崎 秀俊
株式会社東芝セミコンダクター社 システムlsi事業部
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松長 誠之
株式会社東芝研究開発センター
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丹呉 浩侑
株式会社東芝研究開発センター
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吉田 興夫
株式会社東芝研究開発センター
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松長 誠之
東芝
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井上 郁子
株式会社東芝セミコンダクター社 システムlsi事業部
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田中 長孝
(株)東芝セミコンダクター社イメージセンサ技術部
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丹呉 浩侑
株式会社東芝研究開発センターulsi研究所
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佐々木 道夫
(株)東芝
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真鍋 宗平
株式会社東芝セミコンダクター社 システムlsi事業部
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山口 鉄也
株式会社東芝セミコンダクター社 システムLSI事業部
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井原 久典
株式会社東芝、研究開発センター、先端半導体デバイス研究所
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田中 長孝
株式会社東芝 セミコンダクター社 システムLSI事業部 システムLSI統括第一部
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佐々木 道夫
株式会社東芝 セミコンダクター社 システムlsi事業部 システムlsi統括第一部
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真鍋 宗平
株式会社東芝ulsi研究所
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大澤 慎治
株式会社東芝研究開発センターULSI研究所
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大黒 達也
東芝セミコンダクター社:広島大学
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松長 誠之
株式会社東芝 セミコンダクター社 マイクロエレクトロニクス技術研究所 デバイス技術研究所
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松長 誠之
東芝 研開セ
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松長 誠之
(株)東芝ulsi研究所
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吉田 興夫
株式会社東芝研究開発センターulsi研究所
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井原 久典
(株)東芝 セミコンダクター社システムlsi事業部 システムlsi統括第一部
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山口 鉄也
(株)東芝 セミコンダクター社システムlsi事業部 システムlsi統括第一部
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大澤 慎治
(株)東芝
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百々 信幸
(株)東芝 研究開発センター デバイスプロセス開発センター 高性能CMOSデバイス技術開発部
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東 悠介
株式会社東芝
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百々 信幸
株式会社東芝
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佐々木 広器
株式会社東芝
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吉田 毅
株式会社東芝
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大黒 達也
株式会社東芝
著作論文
- 3.7ミクロン角CMOSイメージセンサ
- 単層メタル電極CCDイメージセンサの検討(固体撮像とその関連技術)
- ISSCC
- 転送ゲート負バイアス動作における黒沈み不良の解析(イメージセンサ,カメラ信号処理,画像評価関連技術,及び2013IISWとVLSIシンポジウムからの発表報告)