朴 成基 | 日立製作所・中央研究所
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概要
関連著者
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山口 伸也
日立製作所中央研究所
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朴 成基
日立製作所中央研究所
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朴 成基
日立製作所・中央研究所
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山口 伸也
日立製作所・中央研究所
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波多野 睦子
日立製作所 中央研究所
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波多野 睦子
日立製作所
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波多野 睦子
(株)日立製作所 中央研究所
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杉井 信之
(株)日立製作所中央研究所
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田井 光春
日立製作所
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田井 光春
(株)日立製作所中央研究所
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芝 健夫
(株)日立製作所中央研究所
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芝 健夫
日立製作所中央研究所
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杉井 信之
日立製作所・中央研究所
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田井 光春
日立製作所中央研究所
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宮尾 正信
九州大学・大学院システム情報科学研究院・電子デバイス工学専攻
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中川 清和
日立製作所中央研究所
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宮尾 正信
日立製作所中央研究所
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佐道 泰造
九州大学・大学院システム情報科学研究院・電子デバイス工学専攻
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佐藤 泰造
九州大学・大学院システム情報科学研究院・電子デバイス工学専攻
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波多野 睦子
日立製作所・中央研究所
著作論文
- パルス変調CWレーザ結晶化(SELAX)法による高移動度低温ポリSi-TFT(有機ELとTFT(シリコン、化合物、有機)及びディスプレイ技術)
- パルス変調CWレーザ結晶化(SELAX)法による高移動度低温ポリSi-TFT(有機ELとTFT(シリコン,化合物,有機)及びディスプレイ技術)
- SiO_2基板上の非晶質Si/Ge積層構造におけるGe拡散と結晶化過程
- パルス変調CWレーザ結晶化(SELAX)法による高移動度低温ポリSi-TFT(有機ELとTFT(シリコン,化合物,有機)及びディスプレイ技術)
- SiO_2基板上の非晶質Si/Ge積層構造におけるGe拡散と結晶化過程
- SiGe固相成長による原子層レベル急峻ヘテロ界面の形成
- a-Si_Ge_Xの低温固相成長と次世代TFT
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