岡本 直哉 | 株式会社富士通研究所
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概要
関連著者
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岡本 直哉
富士通
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岡本 直哉
株式会社富士通研究所
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金村 雅仁
(株)富士通研究所
-
吉川 俊英
富士通
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多木 俊裕
富士通株式会社 電子デバイス事業本部
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多木 俊裕
株式会社富士通研究所
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尾崎 史朗
株式会社富士通研究所
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中村 哲一
株式会社富士通研究所
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宮島 豊生
株式会社富士通研究所
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吉川 俊英
株式会社富士通研究所
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金村 雅仁
株式会社富士通研究所
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今田 忠紘
株式会社富士通研究所
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高橋 剛
富士通株式会社
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今西 健治
富士通研究所
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原 直紀
株式会社富士通研究所
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牧山 剛三
株式会社富士通研究所
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高橋 剛
株式会社富士通研究所
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今西 健治
富士通
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今西 健治
株式会社富士通研究所
-
今西 健治
富士通研
著作論文
- 衝突イオン化抑制によるInP HEMTの信頼性改善(電子デバイスの信頼性と半導体表面・界面制御・評価)
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- 原子層堆積Al_2O_3を用いた絶縁ゲート型GaN-HEMTの閾値シフト低減(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
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