舘野 泰範 | ユーディナデバイス株式会社

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概要

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関連著者

• 舘野 泰範

  ユーディナデバイス株式会社

• 八巻 史一

  富士通カンタムデバイス株式会社

• 石井 和明

  ユーディナデバイス株式会社

• 西 眞弘

  ユーディナデバイス株式会社

• 八巻 史一

  ユーディナデバイス株式会社

• 生松 均

  ユーディナデバイス株式会社

• 川田 春雄

  ユーディナデバイス株式会社

• 安達 信雄

  ユーディナデバイス株式会社

• 佐野 征吾

  ユーディナデバイス株式会社

• 佐野 博昭

  ユーディナデバイス株式会社

• 横川 茂

  富士通カンタムデバイス(株)

• 山口 泰弘

  富士通カンタムデバイス

• 吉川 俊英

  富士通

• 加藤 真一

  富士通カンタムデバイス

• 吉川 俊英

  富士通研究所

• 原 直紀

  富士通研究所

• 水野 慎也

  ユーディナデバイス株式会社

• 二階堂 淳一朗

  ユーディナデバイス株式会社

• 常信 和清

  富士通研究所

• 長原 正樹

  富士通カンタムデバイス

• 安達 信雄

  富士通カンタムデバイス

• 舘野 泰範

  富士通カンタムデバイス

• 加藤 眞一

  富士通カンタムデバイス

• 横山 満徳

  富士通カンタムデバイス

• 木村 徳治

  富士通研究所

• 常信 和清

  富士通株式会社:株式会社富士通研究所

• 川野 明弘

  ユーディナデバイス株式会社

• 加藤 眞一

  (株)富士通研究所

• 水野 慎也

  住友電気工業株式会社

• 佐野 征吾

  住友電気工業株式会社

• 横川 茂

  富士通カンタムデバイス

• 川野 明弘

  住友電工デバイス・イノベーション

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著作論文

• 高電圧動作によるAlGaN/GaN HEMTの相互変調歪プロファイル改善
• C-10-13 AlGaN/GaN HEMTを用いたL帯広帯域パワーアンプモジュール(C-10.電子デバイス,一般講演)
• AlGaN/GaN HEMT量産のためのリーク電流による選別(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
• AlGaN/GaN HEMT量産のためのリーク電流による選別(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)
• AlGaN/GaN HEMT量産のためのリーク電流による選別(半導体表面・界面制御・評価と電子デバイスの信頼性)

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