林 一夫 | 三菱電機株式会社 高周波光デバイス製作所
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概要
関連著者
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林 一夫
三菱電機株式会社 高周波光デバイス製作所
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林 一夫
三菱電機株式会社
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林 一夫
三菱電機株式会社高周波光素子統括部
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吉田 直人
三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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三菱電機株式会社:高周波光デバイス製作所
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三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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佐々木 肇
三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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日坂 隆行
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野上 洋一
三菱電機株式会社
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佐々木 肇
三菱電機株式会社
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鈴木 敏
三菱電機
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三菱電機株式会社
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鈴木 敏
三菱電機株式会社高周波光素子事業統括部
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宮國 晋一
三菱電機株式会社 光・マイクロ波デバイス開発研究所
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北野 俊明
三菱電機株式会社光・マイクロ波デバイス開発研究所
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紫村 輝之
三菱電機株式会社 光・マイクロ波デバイス開発研究所
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蓮池 篤
三菱電機株式会社高周波光素子事業統括部
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山本 和也
三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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紫村 輝之
三菱電機高周波光デバイス製作所
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前村 公正
三菱電機株式会社 高周波光デバイス製作所
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鈴木 敏
三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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宮國 晋一
三菱電機株式会社 高周波光デバイス製作所
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宮国 晋一
三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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宮國 晋一
三菱電機(株)光・マイクロ波デバイス開発研究所
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鈴木 敏
三菱電機株式会社:高周波光デバイス製作所
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前村 公正
三菱電機
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北野 俊明
三菱電機株式会社 高周波光デバイス製作所
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宮國 晋一
三菱電機株式会社
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鈴木 敏
三菱電機株式会社
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井上 晃
三菱電機株式会社情報技術総合研究所
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三菱電機株式会社
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谷野 憲之
三菱電機株式会社高周波光素子事業統括部
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片山 秀昭
三菱電機株式会社高周波光素子統括部
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浅田 智之
三菱電機株式会社高周波光素子統括部
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釆女 豊
三菱電機株式会社光・マイクロ波デバイス研究所
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山内 眞英
三菱電機株式会社高周波光素子統括部
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釆女 豊
三菱電機(株)光・マイクロ波デバイス開発研究所
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井上 晃
三菱電機株式会社
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加茂 宣卓
三菱電機株式会社
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宮本 恭幸
東京工業大学
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山中 宏治
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山中 宏治
三菱電機株式会社
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釆女 豊
三菱電機株式会社 光・マイクロ波デバイス開発研究所
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大石 敏之
三菱電機株式会社
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大塚 浩志
三菱電機株式会社
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中山 正敏
三菱電機株式会社:高周波光デバイス製作所
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大石 敏之
三菱電機(株)
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吉田 直人
三菱電機高周波光デバイス製作所
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吉田 直人
三菱電機株式会社光・マイクロ波デバイス開発研究所
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加茂 宣卓
三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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谷野 憲之
三菱電機
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中山 正敏
三菱電機株式会社
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片山 秀昭
三菱電機株式会社
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谷野 憲之
三菱電機株式会社
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片山 秀昭
三菱電機
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浅田 智之
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山口 裕太郎
東京工業大学理工学研究科電子物理工学専攻
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山内 眞英
三菱電機株式会社
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小山 英寿
三菱電機株式会社
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三菱電機(株)高周波光デバイス製作所
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三菱電機株式会社
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大石 敏之
三菱電機株式会社情報技術総合研究所
著作論文
- AlGaAs/InGaAs PHEMTの劣化メカニズム(化合物半導体デバイスの高信頼化技術論文)
- HEMTを用いたPDC用高出力増幅器モジュール
- AlGaAs/InGaAs PHEMTの大信号動作時の劣化機構 : 高電界による半導体表面劣化(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)
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- 携帯端末用HBT電力増幅器,AWAD2006)
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- C-10-5 GaN HEMTの電界とゲートドレイン間容量のトレードオフとPAEへの影響についてのシミュレーション解析(C-10. 電子デバイス,一般セッション)