蓮池 篤 | 三菱電機株式会社高周波光素子事業統括部

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概要

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• 同名の論文著者
• 三菱電機株式会社高周波光素子事業統括部の論文著者

関連著者

• 吉田 直人

  三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所

• 林 一夫

  三菱電機株式会社高周波光素子統括部

• 日坂 隆行

  三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所

• 野上 洋一

  三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所

• 佐々木 肇

  三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所

• 蓮池 篤

  三菱電機株式会社高周波光素子事業統括部

• 林 一夫

  三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所

• 林 一夫

  三菱電機株式会社 高周波光デバイス製作所

• 吉田 直人

  三菱電機株式会社:高周波光デバイス製作所

• 日坂 隆行

  三菱電機株式会社

• 野上 洋一

  三菱電機株式会社

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  三菱電機株式会社

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  三菱電機株式会社

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著作論文

• AlGaAs/InGaAs PHEMTの大信号動作時の劣化機構 : 高電界による半導体表面劣化(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)
• AlGaAs/InGaAs PHEMTの大信号動作時の劣化機構 : 高電界による半導体表面劣化(電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御,信頼性一般)

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