伊藤 賢志 | 産総研企画本部
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概要
関連著者
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伊藤 賢志
産総研企画本部
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伊藤 賢志
産業技術総合研究所
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小林 慶規
産総研計測標準
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小林 慶規
産業技術総合研究所
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小林 慶規
独立行政法人 産業技術総合研究所 計測標準研究部門
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平田 浩一
産総研計測標準
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小林 慶規
産総研
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佐藤 公法
東京学芸大学環境科学分野
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佐藤 公法
学芸大環境科学
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鄭 万輝
独立行政法人産業技術総合研究所
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鄭 万輝
産業技術総合研究所
-
小林 慶規
独立行政法人産業技術総合研究所
-
伊藤 賢志
独立行政法人産業技術総合研究所
-
富樫 寿
独立行政法人産業技術総合研究所
-
于 潤升
産業技術総合研究所
-
富樫 寿
産業技術総合研究所
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鈴木 良一
産総研
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鈴木 良一
産業技術総合研究所
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濱 義昌
早稲田大学理工学研究所
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村上 英興
東京学芸大
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岡 壽崇
産総研計測標準
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村上 英興
学芸大環境科学
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平田 浩一
独立行政法人産業技術総合研究所
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道田 泰子
独立行政法人産業技術総合研究所
-
岡 壽崇
早稲田大学理工学総合研究センタｰ
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平田 浩一
産業技術総合研究所
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佐藤 公法
産業技術総合研究所
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伊藤 賢志
産総研計測標準
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道田 泰子
産業技術総合研究所
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濱 義昌
早稲田大学理工学総合研究センター
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村上 英興
東京学芸大学物理
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上殿 明良
筑波大数理
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上殿 明良
筑波大学電子物理工学系
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大島 永康
産総研
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大平 俊行
産総研
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大平 俊行
産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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鈴木 良一
産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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林崎 規託
東京工業大学
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黒田 隆之助
産業技術総合研究所
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黒田 隆之助
産総研
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林崎 規託
東工大原子炉研
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大島 永康
産業技術総合研究所
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扇澤 敏明
東工大院理工
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上殿 明良
筑波大学・物理工学系
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于 潤升
独立行政法人産業技術総合研究所
-
佐藤 公法
独立行政法人産業技術総合研究所
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柳下 宏
産総研
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扇澤 敏明
東京工業大学大学院理工学研究科有機高分子物質専攻
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大平 俊行
産業総合技術研究所計測フロンティア研究部門
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扇澤 敏明
東京工業大学大学院理工学研究科 有機・高分子物質専攻
-
扇澤 敏明
東京工業大学大学院有機・高分子専攻
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大島 永康
理化学研究所
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阿多 誠介
東工大院理工
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張 天保
独立行政法人産業技術総合研究所
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阿多 誠介
東京工業大学大学院理工学研究科有機高分子物質専攻
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本間 立樹
東京工業大学大学院理工学研究科有機高分子物質専攻
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上殿 明良
筑波大学物理工学系
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オローク ブライアン
産業技術総合研究所
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大平 俊行
産業技術総合研究所
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オローク ブライアン
産総研
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天神林 和樹
筑波大数理
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箇井 拓朗
筑波大数理
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柳下 宏
産業技術総合研究所
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伊藤 賢志
産総研
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筒井 拓朗
筑波大学
著作論文
- 28pYK-4 陽電子寿命-運動量相関計測によるアルカリ金属吸蔵石英ガラスの研究(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- γ線照射によるシリカコｰティングポリプロピレンの機械特性変化
- 酸素バリアーシリカ膜によるポリプロピレンの耐放射線性の向上
- 21pWA-6 陽電子寿命 : 運動量相関計測による高分子中のナノ空孔解析(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 30aXD-5 モット-ワニエ型ポジトロニウム状態の観測(30aXD X線,粒子線(陽電子消滅),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 分光エリプソメトリー及びエネルギー可変陽電子消滅法によるシリカスパッタ薄膜の細孔構造解析
- 材料クロスオーバー研究における陽電子の利用--高分子劣化の高感度検出の可能性 (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成14年度)
- 低速陽電子ビームによるポーラスシリカ薄膜の評価 (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成13年度)
- ポーラスシリカ薄膜中におけるポジトロニウムの挙動
- 市販^Na密封線源の陽電子消滅寿命測定への適用性評価
- スピンキャストにおける前駆体溶液濃度のポリスチレン超薄膜物性への影響
- 21aJA-12 低速陽電子ビームを用いた大気中試料の空孔分析法の開発(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))