材料クロスオーバー研究における陽電子の利用--高分子劣化の高感度検出の可能性 (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成14年度)

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概要

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• 2002-11-15

著者

• 小林 慶規

  産総研計測標準

• 伊藤 賢志

  産業技術総合研究所

• 伊藤 賢志

  産総研企画本部

• 平田 浩一

  産総研計測標準

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