21pWA-6 陽電子寿命 : 運動量相関計測による高分子中のナノ空孔解析(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2008-08-25
著者
-
佐藤 公法
東京学芸大学環境科学分野
-
小林 慶規
産総研計測標準
-
小林 慶規
産業技術総合研究所
-
村上 英興
東京学芸大
-
佐藤 公法
学芸大環境科学
-
村上 英興
学芸大環境科学
-
伊藤 賢志
産業技術総合研究所
-
伊藤 賢志
産総研企画本部
-
平田 浩一
産総研計測標準
-
伊藤 賢志
産総研計測標準
-
小林 慶規
産総研
-
小林 慶規
独立行政法人 産業技術総合研究所 計測標準研究部門
-
村上 英興
東京学芸大学物理
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