低速陽電子ビームによるポーラスシリカ薄膜の評価 (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成13年度)
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概要
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- 2001-10-11
著者
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小林 慶規
産総研計測標準
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小林 慶規
産業技術総合研究所
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鄭 万輝
独立行政法人産業技術総合研究所
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鄭 万輝
産業技術総合研究所
-
伊藤 賢志
産業技術総合研究所
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伊藤 賢志
産総研企画本部
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小林 慶規
産総研
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小林 慶規
独立行政法人 産業技術総合研究所 計測標準研究部門
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