平田 浩一 | 産総研計測標準
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概要
関連著者
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平田 浩一
産総研計測標準
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小林 慶規
産総研計測標準
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伊藤 賢志
産業技術総合研究所
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伊藤 賢志
産総研企画本部
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小林 慶規
産業技術総合研究所
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小林 慶規
産総研
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小林 慶規
独立行政法人 産業技術総合研究所 計測標準研究部門
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佐藤 公法
東京学芸大学環境科学分野
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佐藤 公法
学芸大環境科学
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平田 浩一
産総研
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斎藤 勇一
原子力機構
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山田 圭介
原子力機構高崎
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鳴海 一雅
原子力機構先端基礎セ
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鳴海 一雅
日本原子力研究開発機構先端基礎研究センター
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鳴海 一雅
原子力機構
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千葉 敦也
原子力機構高崎
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斎藤 勇一
原子力機構高崎
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鳴海 一雅
原子力機構高崎
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山田 圭介
原子力機構
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千葉 敦也
原子力機構
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鄭 万輝
独立行政法人産業技術総合研究所
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富樫 寿
独立行政法人産業技術総合研究所
-
鄭 万輝
産業技術総合研究所
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于 潤升
産業技術総合研究所
-
平田 浩一
産業技術総合研究所
-
富樫 寿
産業技術総合研究所
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高橋 康之
原子力機構先端基礎セ
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濱 義昌
早稲田大学理工学研究所
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村上 英興
東京学芸大
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岡 壽崇
産総研計測標準
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村上 英興
学芸大環境科学
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小林 慶規
独立行政法人産業技術総合研究所
-
伊藤 賢志
独立行政法人産業技術総合研究所
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平田 浩一
独立行政法人産業技術総合研究所
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道田 泰子
独立行政法人産業技術総合研究所
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岡 壽崇
早稲田大学理工学総合研究センター
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佐藤 公法
産業技術総合研究所
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伊藤 賢志
産総研計測標準
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道田 泰子
産業技術総合研究所
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濱 義昌
早稲田大学理工学総合研究センター
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村上 英興
東京学芸大学物理
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鈴木 良一
産総研
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大平 俊行
産総研
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大平 俊行
産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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鈴木 良一
産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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笹 公和
筑波大
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間嶋 拓也
(株)コンポン研:(現)首都大学東京大学院理工学研究科物理学専攻
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土田 秀次
京大院工
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伊藤 秋男
京大院工
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笹 公和
筑波大加速器
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笹 公和
筑波大・数理物質
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笹 公和
東工大原子炉
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冨田 成夫
筑波大数物
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柴田 裕実
京大院工
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菱田 俊一
物材機構
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菱田 俊一
東京大学工学部工業化学科 : (現)東京大学理学部化学科
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菱田 俊一
物質・材料研究機構 物質研究所
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鈴木 良一
産業技術総合研究所
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冨田 成夫
筑波大学
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于 潤升
独立行政法人産業技術総合研究所
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佐藤 公法
独立行政法人産業技術総合研究所
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冨田 成夫
筑波大 加速器
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間嶋 拓也
京大院工
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大平 俊行
産業総合技術研究所計測フロンティア研究部門
-
間島 拓也
京大工
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菱田 俊一
科学技術庁無機材質研究所
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土田 秀次
奈良女大理
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張 天保
独立行政法人産業技術総合研究所
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平田 浩一
物質研
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小林 慶規
物質研
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大平 俊行
産業技術総合研究所
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冨田 成夫
筑波大
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笹 公和
筑波大学研究基盤総合センター応用加速器部門
著作論文
- 28pYK-4 陽電子寿命-運動量相関計測によるアルカリ金属吸蔵石英ガラスの研究(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- γ線照射によるシリカコーティングポリプロピレンの機械特性変化
- 酸素バリアーシリカ膜によるポリプロピレンの耐放射線性の向上
- 21pWA-6 陽電子寿命 : 運動量相関計測による高分子中のナノ空孔解析(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 30aXD-5 モット-ワニエ型ポジトロニウム状態の観測(30aXD X線,粒子線(陽電子消滅),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 分光エリプソメトリー及びエネルギー可変陽電子消滅法によるシリカスパッタ薄膜の細孔構造解析
- 20pTC-7 有機高分子材料へのクラスターイオン照射による2次イオン放出(20pTC 放射線物理(2次粒子放出・クラスタービーム),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 25aZB-9 炭素クラスターイオン照射による2次イオン放出(放射線物理(クラスター・2次粒子放出),領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
- 材料クロスオーバー研究における陽電子の利用--高分子劣化の高感度検出の可能性 (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成14年度)
- イオン照射高分子の損傷分布
- ポーラスシリカ薄膜中におけるポジトロニウムの挙動
- 高分子中でのポジトロニウム形成とその挙動
- 28a-K-6 陽電子ビームで見たイオン注入シリコンのチャネリング効果
- 18pXK-6 クラスターイオンの照射効果とその応用(シンポジウム 光・粒子ビームで観る・創る-放射線物性の新展開-,領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
- 22pEE-9 C_イオンビームのガラスキャピラリー透過特性(22pEE 領域1,領域2合同企画講演(キャピラリー),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 21pEB-12 有機高分子薄膜へのクラスターイオン照射と単原子イオン照射による2次イオン放出の比較(21pEB 放射線物理(クラスター・微粒子),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))