佐藤 公法 | 産業技術総合研究所
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概要
関連著者
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佐藤 公法
学芸大環境科学
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佐藤 公法
産業技術総合研究所
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沖津 康平
東京大学工学部総合研究機構
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上ヱ地 義徳
東大新領域
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沖津 康平
東大工
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雨宮 慶幸
東大新領域
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佐藤 公法
東大工
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雨宮 慶幸
東大工総合試
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雨宮 慶幸
東大工
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上ヱ地 義徳
総研大数物科学
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雨宮 慶幸
東京大学大学院新領域創成科学研究科
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上ヱ地 義徳
東大工
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沖津 康平
東京大学工学部総合研究機構ナノ工学研究センター
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雨宮 慶幸
東京大学大学院
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佐藤 公法
東京学芸大学環境科学分野
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長谷川 裕司
東大・応用物理
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小林 慶規
産総研計測標準
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小林 慶規
産業技術総合研究所
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富樫 寿
独立行政法人産業技術総合研究所
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伊藤 賢志
産業技術総合研究所
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于 潤升
産業技術総合研究所
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平田 浩一
産業技術総合研究所
-
富樫 寿
産業技術総合研究所
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伊藤 賢志
産総研企画本部
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平田 浩一
産総研計測標準
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佐藤 公法
東京大学大学院工学系研究科
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上ヱ地 義徳
東京大学大学院工学系研究科
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長谷川 祐司
東京大学大学院工学系研究科
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上ヱ地 義徳
総研大放射光科学
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小林 慶規
産総研
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小林 慶規
独立行政法人 産業技術総合研究所 計測標準研究部門
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上ヱ地 義徳
総研大放射光
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鈴木 良一
産総研
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大平 俊行
産総研
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大平 俊行
産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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鈴木 良一
産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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松下 正
高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所
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雨宮 慶幸
東京大学大学院新領域創成科学研究科物質系専攻
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鈴木 良一
産業技術総合研究所
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濱 義昌
早稲田大学理工学研究所
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村上 英興
東京学芸大
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岡 壽崇
産総研計測標準
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村上 英興
学芸大環境科学
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鄭 万輝
独立行政法人産業技術総合研究所
-
道田 泰子
独立行政法人産業技術総合研究所
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岡 壽崇
早稲田大学理工学総合研究センタｰ
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鄭 万輝
産業技術総合研究所
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上エ地 義徳
東京大学大学院新領域創成科学研究科物質系専攻
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道田 泰子
産業技術総合研究所
-
小林 廣規
産総研計測標準
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Sprengel W.
Universitaet Stuttgart
-
Schaefer H.-E.
Universitaet Stuttgart
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長谷川 祐司
東大工
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大平 俊行
産業総合技術研究所計測フロンティア研究部門
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濱 義昌
早稲田大学理工学総合研究センター
-
大平 俊行
産業技術総合研究所
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松下 正
高エネルギー加速器研究機構
-
松下 正
高エネルギー加速器研究機構 物質構造科研
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村上 英興
東京学芸大学物理
著作論文
- 酸素バリアーシリカ膜によるポリプロピレンの耐放射線性の向上
- 光軸収差と色収差を補償する四象限X線移相子システム
- 分光エリプソメトリー及びエネルギー可変陽電子消滅法によるシリカスパッタ薄膜の細孔構造解析
- 19pXB-11 鉄ナノ結晶材料中の粒子間構造と磁気特性(格子欠陥・ナノ構造(半導体・ナノ粒子・表面界面),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23aYH-8 差分型X線偏光顕微法によるX線磁気円二色性イメージング
- X線偏光コントラストイメージング
- X線エリプソメーターの開発およびX線自然光学活性への応用
- 26pYA-3 差分型X線偏光顕微鏡の開発
- 25pYL-5 X線エリプソメータの開発と応用
- 30p-XJ-9 透過型2枚X線移相子の球面収差補償効果および4枚X線移相子の球面収差と色収差補償効果の評価
- 30p-XJ-8 X線偏光顕微鏡の開発 : 高分解能CCD型X線検出器の性能評価
- 30p-XJ-7 移相子付き波長可変X線ポラリメーターによるニッケルK吸収端におけるX線自然光学活性の測定
- 27a-K-5 透過型2枚X線移相子の球面収差と色収差の評価および完全収差補正型4枚X線移相子に関する考察
- 27a-K-4 直線偏光スイッチングによるニッケルK吸収端におけるX線直線二色性の測定
- 27a-K-3 円偏光スイッチングおよび偏光解析によるニッケルK吸収端におけるX線自然光学活性
- X線偏光顕微法の開発と材料研究への応用 (特集 放射光を活用した材料研究)
- 光軸収差と色収差を補償する四象限X線移相子