省面積抵抗ストリングDACと閉ループ・オフセット検出を用いたCMOSオペアンプのオフセット校正(回路解析,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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オペアンプ回路のオフセット補正を、製造後に可能にする新規回路方式を開発した。クローズド・ループ型の補正フィードバック方式を開発し、精度を維持しつつ高速な補正動作を実現した。また、補正のための付加回路の面積の大半を占めるD/Aコンバーター回路には、Folded-Alternated Resistor String DACを開発した。これにより従来タイプのDACに比べて同等の精度でありながら、半分以下の面積と低消費電力化を実現した。0.35μm標準CMOSプロセスによる試作を行い、実測を行った結果、校正によりオフセットが1.5mV以下に抑えられることを確認した。
- 2011-11-21
著者
-
中村 和之
九州工業大学マイクロ化総合技術センター
-
中村 和之
九州工業大学
-
藤原 宗
新日本無線株式会社北九州デザインセンター
-
森本 浩之
九州工業大学マイクロ化総合技術センター
-
後藤 弘明
九州工業大学マイクロ化総合技術センター
-
森本 浩之
九州工業大学 マイクロ化総合技術センター
-
後藤 弘明
九州工業大学 マイクロ化総合技術センター
-
藤原 宗
新日本無線株式会社 北九州デザインセンター
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