ノンスキャンBISTを実現するテスト容易化設計の線形計画問題
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概要
著者
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山口 賢一
奈良高専情報工学科
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山口 賢一
奈良工業高等専門学校
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村田 絵理
奈良工業高等専門学校
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村田 絵理
奈良先端科学技術大学院大学
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Yamaguchi K
Nara National Coll. Technol.
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