AR1000基板を用いて構成されたマイクロストリップ線路に関する伝搬定数の評価に関する検討
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概要
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銅張りガラスクロス・セラミックPTFE積層基板AR-1000に関して平面および垂直方向の複素比誘電率、表面および界面比導電率が、各種共振器法を用いて測定されている。本報告では、AR-1000上に構成される50Ωマイクロストリップ線路に関して、伝搬定数すなわち減衰定数αおよび実効誘電ε_<eff>を1-20GHzにわたり計算する。さらにε_<eff>の評価方法を検討する。実験により本評価方法の妥当性を検証する。なお、これらの計算には電磁界シミュレータHFSS,Femtett,およびSonnet emを用いた。
- 2009-11-12
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