誘電体共振器法による超伝導体表面抵抗の測定精度に関する検討
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概要
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超伝導体の表面抵抗R_sのマイクロ波測定によく用いられる。2種類の誘電体共振器法について、その測定精度を検討する。第1は1個の共振器に存在する2つの共振モードTE_<012>とTE_021を用いる方法(1共振器法)で、第2は長さが整数倍異なる2個の共振器を用いる方法(2共振器法)である。これらの共振器についてサファイア円柱共振器(比誘電率ε_r=9.4)とBMTセラミック円柱共振器(ε_r=24)を用いたとき、R_sの測定精度に与える超伝導体の直径dの寸法の影響を計算した。また無負荷Q, Q_uの測定誤差が1%であるとしたとき、Quの測定精度がR_sの測定精度に与える影響について検討する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-04-22
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