導波管励振誘電体平板共振器を用いたミリ波複素誘導率の非破壊測定
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概要
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本研究では、導体円筒を真中で切断し、その間に誘電体平板材料を挟んで構成される導波管励振誘電体平板共振器のTE_010>,TE_020>,TE_030>モードを用いて、ミリ波帯においてその複素誘電率の非破壊測定を行う。まず、本共振器構造の共振周波数および無負荷Qの計算を、境界条件により得られる積分方程式にリッツ・ガレルキン法を適応した厳密な解析法により正確に行う。この計算結果より、複素誘電率に及ぼす縁端効果を求めることが可能となった。本測定では、まず、縁端効果を無視して簡単な計算式より複素誘電率を求め、次に本計算によって求められた縁端効果の補正図より正しい値を求める方法により、測定の簡素化を実現する。実際に45-60GHzにおいてテフロン、アルミナ、GaAs基板の複素誘電率の測定を行い、本測定法の有効性を実証する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-07-18
著者
-
小林 禧夫
埼玉大学工学部
-
舟橋 政弘
Nec システムulsi開発本部
-
舟橋 政弘
日本電気(株)
-
舟橋 政弘
Nec東芝スペースシステム株式会社宇宙機器本部
-
金川 潔
埼玉大学工学部電気電子工学科
-
舟橋 政弘
株式会社ミリウェイブ
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