有機誘電体基板の複素誘電率の一軸異方性のマイクロ波測定
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概要
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誘電体積層基板はマイクロ波平面回路を設計する際に広く利用されている。この基板は多層構造であるため、複素誘電率は一軸異方性をもち、誘電体基板の平面方向と垂直方向で異なる値をもつ。垂直方向の複素誘電率(比誘電率ε_<rn>,誘電正接tanδ_n)の周波数依存性の測定には、共振器周波数の異なる複数個のTM_<0m0>モードをもつ同軸励振平衡形円板共振器を用いて測定する。また、平面方向の複素誘電率(比誘電率ε_<rt>,誘電正接tanδ_t)の周波数依存性測定には、寸法の異なる複数個の空洞共振器を用いて測定する。実際に、ポリオレフィン系基板やガラスクロスPTFE積層基板について測定を行った。これらの測定結果はマイクロストリップ構造やコプレーナー構造の平面回路を実際に設計する際の有用性を実証する。
- 2006-05-11
著者
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