マイクロ波帯における誘電体基板の一軸異方性複素誘電率の周波数依存性測定(測定,<特集>マイクロ波論文(大学発))
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概要
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誘電体積層基板はマイクロ波平面回路を設計する際に広く利用されている.この基板は多層構造であるため,複素誘電率が一軸異方性をもち,誘電体基板の垂直方向と平面方向で異なる値をもつ.垂直方向の複素誘電率(比誘電率ε_<rn>,誘電正接tanδ_n)の周波数依存性の測定には,共振周波数の異なる複数個のTM_<0m0>モードをもつ同軸励振平衡型円板共振器を用いて測定する.また,平面方向の複素誘電率(比誘電率ε_<rt>,誘電正接tanδ_tの周波数依存性測定には,寸法の異なる複数個の空洞共振器を用いて測定する.実際に,ポリオレフィン系基板やガラスクロスPTFE積層基板などについて測定を行い,本法の有効性を実証する.
- 2006-12-01
著者
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