基板用絶縁材料の誘電特性測定(<特集>電磁特性と計測技術)
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概要
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rights: 社団法人エレクトロニクス実装学会rights: 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものであるrelation: IsVersionOf: http://ci.nii.ac.jp/naid/110006249326
- 2007-05-01
著者
-
戸高 嘉彦
アジレントテクノロジー株式会社
-
小林 禧夫
埼玉大学
-
福永 香
独立行政法人情報通信研究機構
-
福永 香
情報通信研究機構
-
戸高 嘉彦
アジレント・テクノロジー株式会社電子計測本部
-
福永 香
独立行政法人 情報通信研究機構
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