戸高 嘉彦 | アジレント・テクノロジー株式会社電子計測本部
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概要
関連著者
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戸高 嘉彦
アジレントテクノロジー株式会社
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戸高 嘉彦
アジレント・テクノロジー株式会社電子計測本部
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橋本 修
青山学院大学
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橋本 修
青山学院大 理工
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西方 敦博
東京工業大学教育工学開発センター
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小林 禧夫
埼玉大学
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高橋 孝
(社)日本ファインセラミックス協会 標準部
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東京工業大学
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西方 敦博
東京工芸大学教育工学開発センター
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酒井 泰二
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福永 香
独立行政法人情報通信研究機構
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福永 香
情報通信研究機構
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キーコム(株)
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TDK株式会社 テクニカルセンター
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小林 禧夫
埼玉大学地域共同研究センター
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栗原 弘
Tdk株式会社
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鈴木 洋介
KEYCOM株式会社
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栗原 弘
TDK-EPC株式会社電波エンジニアリングBU
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酒井 泰二
青山学院大学理工学部
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東田 豊
(財)日本ファインセラミクスセンター材料技術研究所
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高橋 孝
日本ファインセラミクス協会標準部
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近藤 昭治
関東電子応用開発株式会社
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近藤 昭治
関東電子応用開発
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小林 禧夫
埼玉大学地域オープンイノベーションセンター
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福永 香
独立行政法人 情報通信研究機構
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東田 豊
財団法人ファインセラミックスセンター
著作論文
- 基板用絶縁材料の誘電特性測定(電磁特性と計測技術)
- CK-1-6 ミリ波帯における電波吸収体の反射特性の測定法(CK-1.マイクロ波・ミリ波材料測定法の標準化,ソサイエティ企画)
- ミリ波帯におけるビーム収束型ホーンアンテナを用いたフリースペース法による複素誘電率及び複素透磁率の同時測定
- ミリ波帯における電波吸収体の測定法に関する一検討(その2) : ビーム集束型誘電体レンズ付きホーンアンテナを用いた自由空間法の標準化
- ビーム集束型ホーンアンテナを用いたフリースペース法電子材料測定システム
- マイクロ波帯における基板材料の複素誘電率測定法