NBCO薄膜の表面抵抗測定とYBCO薄膜との比較(エレクトロニクス・一般)
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概要
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本報告では、2サファイア円柱共振器法による高温超伝導体(HTS)NdBa_2Cu_3O_7薄膜の表面抵抗R_Sの温度依存性測定を22GHzにおいて行う。その結果、NdBa_2Cu_3O_7薄膜のR_Sは、20Kで約0.2mΩ,80Kで約l.OmΩであることがわかった。これは、現在、マイクロ波HTSデバイスの開発に一般に用いられている、YBa_2Cu_3O_7薄膜の測定結果と比較し非常に低損失である。これより、今後、NdBa_2Cu_3O_7薄膜のマイクロ波およびミリ波デバイスヘの応用が期待される。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-10-15
著者
-
小林 禧夫
埼玉大学
-
小林 禧夫
埼玉大学工学部
-
牧本 俊樹
Ntt物性基礎研
-
佐藤 寿志
NTT物性科学基礎研究所
-
KURIAN Jose
NTT物性科学基礎研究所
-
佐藤 寿志
Ntt物性基礎研
-
小高 康志
埼玉大学工学部電気電子システム工学科
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