銅張誘電体積層基板の界面導電率の周波数依存性測定
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概要
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従来,銅張誘電体積層基板の界面比導電率_<σ_rb>の測定は,5〜20GHzの周波数帯で種々の誘電体円柱共振器を用いて行われてきた.本報告では5GHz以下で測定する方法を検討する.まず,2誘電体共振器法により,寸法の異なるペアの標準誘電体円柱を用いて標準銅板の5〜22GHzにおける周波数依存性を測定した.この結果より1.6〜2.5GHzにおける界面比導電率測定に用いる4個の高誘電率セラミック誘電体円柱の誘電正接を決定した.これらの測定結果を基に,誘電体共振器法により,2種類の銅張誘電体基板について1.6〜20GHzにわたる_<σ_rb>の周波数依存性の測定を行い,良好な結果を得た.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2010-11-18
著者
-
小林 禧夫
埼玉大学工学部
-
馬 哲旺
埼玉大学工学部
-
馬 哲旺
埼玉大学
-
馬 哲旺
埼玉大学工学部電気電子システム工学科
-
小林 禧夫
埼玉大学大学院理工学研究科
-
常光 理志
埼玉大学工学部
-
常光 理志
埼玉大学
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