20aPS-36 有効遮蔽体法によるSi(001)表面の構造安定性計算(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2007-02-28

著者

• 吉本 芳英

  東大物性研

• 杉野 修

  東大物性研

• 大谷 実

  東大物性研:産総研計算科学

• 大谷 実

  産総研

• 吉本 芳英

  東京大学物性研究所

• 杉野 修

  東京大学物性研究所

• 杉野 修

  日電マイクロ研

• 吉本 芳英

  東大物性研:(現)鳥取大工応数

• 中島 紳伍

  東大物性研

• 大谷 実

  東大物性研

• 杉野 修

  東大 物性研

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