狭窄構造を有するNi-Fe磁性細線における磁壁の挙動の検討(映像情報機器及び一般)
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概要
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本研究では,狭窄構造を有するNi-20at%Fe磁性細線の磁化反転過程およびその際の磁壁の挙動について検討した.磁化状態の測定には磁場掃引磁気力顕微鏡を用いた.磁場掃引磁気力顕微鏡は,磁気力探針からの漏洩磁場の影響無しに試料の磁化状態を直接的に観測することが可能で,この測定手法により,磁性細線内の磁壁の挙動を詳細に評価することができる.磁性細線の磁化反転過程は,細線の膜厚および形状に強く依存することが明らかになった.
- 2009-01-08
著者
-
永山 達郎
大阪大学大学院工学研究科マテリアル生産科学専攻
-
野村 光
大阪大学大学院工学研究科マテリアル生産科学専攻
-
遠藤 恭
東北大学大学院工学研究科電気・通信工学専攻
-
中谷 亮一
大阪大学大学院工学研究科マテリアル生産科学専攻
-
中谷 亮一
(株)日立製作所中央研究所
-
中谷 亮一
大阪大 大学院工学研究科
-
野村 光
大阪大学大学院工学研究科
-
遠藤 恭
東北大学大学院工学研究科
-
中谷 亮一
大阪大学大学院工学研究科
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