液晶用位相差フィルムのための2次元高速複屈折分散測定装置の開発
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概要
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A fast two-dimensional measurement system of birefringence dispersion is developed for inspection of LCD retardation film. An optical arrangement of this system consists of a polarizer, a carrier retarder and an analyzer. The carrier retarder can be introduced a carrier frequency into an intensity distribution along wave number. A Xenon flash lamp is employed as a white light source and synchronized with the line type of imaging spectrometer. The detected intensity distribution changes the sinusoidal wave along wave number. A phase distribution is calculated by Fourier transform method. The retardation distribution of a polymer sample is analyzed to subtract phase distributions with and without the sample. In the experiments, the some polymer films are measured as demonstrations and evaluated to the non-uniformity of retardation distribution.
- 2006-05-05
著者
-
黒川 隆志
東京農工大学
-
大谷 幸利
東京農工大学工学部
-
梅田 倫弘
東京農工大学 工学部
-
若山 俊隆
埼玉医科大学保健医療学部医用生体工学科
-
黒川 隆志
東京農工大学大学院工学系
-
大谷 幸利
東京農工大学大学院共生科学技術研究院
-
大谷 幸利
宇都宮大学オプティクス教育研究センター
-
梅田 倫弘
東京農工大学
-
若山 俊隆
東京農工大学大学院
-
大谷 幸利
宇都宮大学core
-
大谷 幸利
東京農工大学
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