液晶格子パターン投影による3次元形状計測 : ストライプ型液晶格子の開発
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概要
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This paper describes a key device for measuring three-dimensional surface profiles using grating projection method. In this system a structured pattern is projected onto the object and the pattern deformed in accordance with the surface shape is captured by a CCD camera. And the captured image is analyzed to get three-dimensional coordinates of the surface on the basis of phase shifting technique. A special grating is built-up which consists of an active-controlled liquid crystal (LC) aligned as stripes. This LC grating has the performances of 4bits gray levels and 50 micrometers of period. Experimental results are gotten by using this LC grating and improved driving method.
- 社団法人精密工学会の論文
- 2001-05-05
著者
-
吉澤 徹
東京農工大学工学部
-
藤田 宏夫
シチズン時計(株)
-
大谷 幸利
東京農工大学工学部
-
諸川 滋
シチズン時計
-
山本 将之
東京農工大学 工学部
-
山谷 謙
東京農工大学大学院
-
勝呂 彰
シチズン時計(株)技術研究所
-
大谷 幸利
東京農工大学大学院共生科学技術研究院
-
大谷 幸利
宇都宮大学オプティクス教育研究センター
-
山本 将之
東京農工大学工学部
-
大谷 幸利
宇都宮大学core
-
諸川 滋
シチズン時計(株)技術研究所
-
大谷 幸利
東京農工大学
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