顕微鏡型複屈折マッピングシステム
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概要
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A microscopic birefringence measurement is proposed to detect optical anisotropy in microscopic area. The stress from industrial processes and molecular orientation are detected by visualizing birefringence distribution. An analytic algorithm with local-sampling phase shifting is employed for achieving a high resolution. The error caused by the initial birefringence of the optical system is corrected by subtracting the in-phase vector. A Berek compensator is used for accuracy check. We demonstrate our method by measuring the cross section of an optical disk made from plastic, and a bio-sample. In our experiments, we were able to obtain a precision of ±0.2°.
- 公益社団法人精密工学会の論文
- 2004-06-05
著者
-
大谷 幸利
東京農工大学工学部
-
梅田 倫弘
東京農工大学 工学部
-
大谷 幸利
東京農工大学大学院共生科学技術研究院
-
大谷 幸利
宇都宮大学オプティクス教育研究センター
-
梅田 倫弘
東京農工大学
-
海老澤 瑞枝
東京農工大学工学府
-
海老澤 瑞枝
東京農工大学工学研究科
-
大谷 幸利
宇都宮大学core
-
大谷 幸利
東京農工大学
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