3B16 ヘテロダイン干渉法を用いたTN液晶のセルギャップとツイスト角の同時計測
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概要
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This paper describes a novel technique to measure both cell gap and twisted angle in TN liquid crystal cells, simultaneously. The cell gap and the twisted angle are determined by measuring retardation of linear birefringence and optical rotation angle which is defined as circular birefringence. This technique is based on an optical heterodyne interferometry with rotating analyzer and two-phase lock-in amplifier. The resolution of this method is verified by using the combination of the Babinet Soleil compensator and half wave plate as the sample. The measurement results of cell gap and twisted angle are compared with predetermined values on manufacturing the cell.
- 日本液晶学会の論文
- 1995-09-10
著者
-
梅田 倫弘
東京農工大学 工学部
-
築地 光雄
ユニオプト(株)
-
高和 宏行
ユニオプト(株)
-
村木 可苗
ユニオプト
-
高柳 淳夫
農工大工
-
梅田 倫弘
農工大工
-
高和 宏行
ユニオプト
-
高柳 淳夫
東京農工大学工学部機械システム工学科
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