光コヒーレンストモグラフィによる2次元偏光断層計測:第2報形状計測高速化の試み
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2002-03-01
著者
-
大谷 幸利
東京農工大学工学部
-
大谷 幸利
東京農工大学大学院共生科学技術研究院
-
大谷 幸利
宇都宮大学オプティクス教育研究センター
-
島田 竜太郎
東京農工大学
-
大谷 幸利
宇都宮大学core
-
大谷 幸利
東京農工大学
関連論文
- 圧電素子と感温磁性体からなる光駆動走行マシン
- 光駆動アクチュエータの研究(第6報)
- 光駆動アクチュエータの研究(第5報) -小型化への試み-
- 光駆動方式によるアクチュエータの研究(第4報)
- 光駆動方式によるアクチュエータの研究(第3報)
- 分光偏光変調を用いたミュラー行列測定 (最近の偏光計測の動向)
- 分光偏光変調器を用いた複屈折および旋光同時計測法
- 細胞集合組織の巨視的変形過程におけるひずみ複屈折の顕微鏡観察
- 235 植物組織変形過程における細胞内ひずみ分布の複屈折顕微鏡による観察(OS1-12 : 生体マイクロ・ナノ構造メカニクス(4),マイクロ・ナノバイオメカニクス)
- 液晶格子による光切断を用いた三次元形状計測 (特集:非接触三次元計測の最新動向)
- 液晶格子パターン投影による3次元形状計測 : ストライプ型液晶格子の開発
- ストライプ型液晶格子を用いた格子パターン投影法(第3報) : 格子作成結果と計測例
- 光ヘテロダイン干渉法による形状測定のための位相拡大検出法
- ストライプ型液晶格子を用いた格子パターン投影法(第2報) -格子パターン作成方法の変更-
- ウエッジ・リング・ディテクタを用いた回折パターンの検出(第1報)
- ストライプ型液晶格子を用いた格子パターン投影法(第1報) -ストライプ型液晶格子について-
- 光ヘテロダイン法と非共焦点報によるハイブリッド形状測定
- 音響光学素子を用いた差動型光ヘテロダイン干渉法による表面形状計測
- 分光偏光変調を用いたミュラー行列測定
- 分光偏光変調による光計測の高機能化 (特集 偏光の新展開)
- 液晶用位相差フィルムのための2次元高速複屈折分散測定装置の開発
- 分光偏光変調によるワンショット旋光分散計測
- 幾何学的位相とその光計測への応用
- 波長依存性を考慮した二次元複屈折計測
- 液晶フィルムの偏光計測法
- T1601-1-5 ポール効果による微小物体のマニピュレーション(マイクロナノダイナミクスの計測と制御・マイクロナノメカトロニクス(1))
- マイクロパッシブ磁気浮上による微小物体位置の光制御 (第14回 知能メカトロニクスワークショップ講演論文集)
- 2309 感温磁性体を用いた磁気浮上微小物体の三次元光駆動(マイクロメカニズム,一般講演)
- ヌルレンズ補正法による微小レンズの2次元複屈折分布計測
- 表面プラズモン共鳴を用いた光タクタイル圧力センサ
- 可変焦点レンズを用いたフォーカス法による三次元形状計測
- フォトニクス技術における新原理と要素技術に関する研究調査分科会 : フォトニクス技術における新原理と要素技術に関する研究調査分科会の紹介(専門委員会・分科会研究レビュー)
- 複屈折分布による射出成形ディスク基板の平坦度評価法
- モアレ平坦度計測装置
- 低コヒーレンス干渉計を用いた偏光情報測定
- 液面基準斜入射干渉計(第一報)
- モアレパターン投影方式3次元計測
- 格子周波数走査によるモアレ計測(第1報)
- ユニアクシス レンジファインダ(第1報)投影パターンのコントラスト検出
- 光ファイバを用いたストレインゲージを開発(第3報)曲面反射ミラーによる光強度変化の検出を利用したひずみ計測
- Cu : KNSBN結晶のフォトリフラクティブ二光波混合によるパターンマッチング
- 格子パターン投影法を用いた位相およびコントラスト検出による表面形状計測
- 位相シフト実体格子型モアレ法による形状計測
- 光ファイバを用いたストレインゲージの開発(第2報)凸面反射ミラーによる光強度変化の検出
- 位相シフトモアレ法による高精度反射面形状計測
- フォトサーマル効果を利用した光駆動
- 感温磁性体による光熱変換方式2次元アクチュエータ
- 顕微鏡型複屈折マッピングシステム
- 局所サンプリング位相シフト法を用いた表面形状計測
- 局所サンプリング位相シフト法による高感度表面形状測定(第3報)
- 局所サンプリング位相シフト法による高感度表面形状測定(第2報)
- 局所サンプリング位相シフト法による高感度表面形状測定
- ワンステップ位相シフト法による刃物形状計測
- 格子パターン投影法を用いた反射物体の表面形状計測(第2報) : 楕円面鏡の計測
- 格子パターン投影法を用いた位相およびコントラスト検出による三次元形状計測
- 格子パターン投影法を用いた反射物体の表面形状計測
- 格子パターン投影法を用いた反射物体の表面形状計測(第2報) -非球面鏡の計測-
- 格子パターン投影法を用いた反射物体の表面形状計測
- 1302 ゼラチンの2軸応力下における複屈折による挙動観察(OS-13A,OS-13 ポリマの変形と破壊に関するモデリングとシミュレーション)
- 格子投影型位相シフトモアレ法を用いた三次元形状計測(第1報) -バイナリ格子における周期誤差に関する考察-
- 擬似正弦波格子の作成法の検討
- コントラスト検出による表面形状計測
- 格子パターン投影方式三次元形状計測システム(第2報) -投影パターンの光強度分布に関する考察-
- 格子パターン投影方式三次元形状計測システム(第1報)-表面情報の捉え方-
- アブラムソン干渉計を用いた反射物体の表面形状計測(第2報) -多重干渉による影響の低減-
- アブラムソン干渉計を用いた反射物体の表面形状計測(第1報) -多重干渉による影響の考察-
- 回折パターンを用いた刃物面形状測定
- ワンステップ位相シフト法を用いたアブラムソン干渉計による表面形状計測
- ワンステップ位相シフト法を用いたアブラムソン干渉計による形状計測(第4報 計測領域の拡大)
- LD直交2周波光源を用いた共通光路干渉計による表面形状計測
- 位相シフト型アブラムソン干渉計による粗面測定
- 磁性流体を用いた磁場センシング
- 周波数調こよる縞走査法(第5報・アルゴリズムの一般化とモアレ計測への応用)
- Shadow moire profilometry using phase-shifting method
- 周波数変調による縞走査法(第4報・モアレ計測への応用)
- 1311 光駆動によるマイクロマニピュレータ(OS7-2 マイクロメカトロニクス(2))
- フォトリフラクティブ二光波混合による干渉計の周波数応答
- パターン投影法におけるしま次数の決定法とレンズ素材の形状計測への応用
- 位相シフトモアレ法による液晶基板のフラットネス測定法
- デジタル液晶変調器による格子投影型モアレ三次元計測
- 蛍光による三次元ディスプレイの試作
- One-Step GRASPによる形状計測(第4報) -誤差要因の解析と計測精度の向上-
- 光コヒーレンストモグラフィによる2次元偏光断層計測:第2報形状計測高速化の試み
- 光コヒーレンストモグラフィによる2次元偏光断層計測
- 液晶デバイスと製造評価(光学材料の屈折率, 複屈折の測定)
- 微小レンズの二次元複屈折分布計測
- フォトサーマル効果によるマイクロ気泡アクチュエータ : (第1報)気泡の発生および操作
- フォトサーマル効果を用いた光ファイバ型アクチュエータ:第2報2次元動作への試み
- ミュラー行列イメージングポラリメータの開発:第2報:2次元解析の高精度化
- 光ファイバを用いたストレインゲージの開発
- 位相シフトモアレ法によるLCDガラス基板平坦度計測法(第2報)
- フォトサーマル効果を用いた光ファイバ型アクチュエータ
- ミュラー行列イメージングポラリメータの開発
- 位相シフトモアレ法によるLCDガラス基板平坦度計測法
- LCD用ガラス基板平坦度計測法
- 干渉計測
- 位相シフト法による2次元複屈折測定
- 半導体レーザを用いた直交2周波光源による変位計
- 光による形状計測
- LD直交2周波光源を用いた形状計測-位相とび問題への対応-