25aWB-1 第一原理電子輸送特性計算による酸化シリコン薄膜のリーク電流の予測(表面・界面電子物性(理論・シミュレーション),領域9(表面・界面, 結晶成長))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2005-03-04

著者

• 広瀬 喜久治

  阪大院工

• 小野 倫也

  阪大院工

• 中川 大輔

  阪大院工

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