自己平坦化法で作製したBi_2Sr_2CaCu_2O_xスタックのリターン電流の温度特性(電子デバイス, 一般)
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概要
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我々は, 最近Bi-2212スタックの新しい作製方法である自己平坦化法を開発した. この方法は, Josephson接合窓周辺のBi-2212単結晶を希塩酸(≤0.2%)によって改質させた絶縁層を平坦化層として用いている. Bi-2212スタックのリターン電流(I_r)の温度依存性を測定した結果, 40K以上では温度上昇とともにI_rは増加し, 極大値をとった後, 臨界電流と一致(ヒステリシス消滅)することがわかった. I_r-T特性をJosephson接合の現象論モデルであるRCSJモデルを基礎としたZappeモデルを用いて解析して実験結果と比較した結果, I_r-T特性はc軸抵抗に強く依存していることがわかった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-01-20
著者
-
島影 尚
情通機構関西
-
王 鎮
情通機構関西:阪府大ナノ研
-
王 鎮
独立行政法人情報通信研究機構未来ICT研究センター
-
末松 久幸
長岡技術科学大学極限エネルギー密度工学研究センター
-
濱崎 勝義
長岡技術科学大学工学部電気系
-
島影 尚
独立行政法人情報通信研究機構
-
末松 久幸
長岡技術科学大学工学部電気系
-
岡上 久美
長岡技術科学大学 工学部 電気系
-
ファチャムルン R.
長岡技術科学大学
-
鈴木 光夫
長岡技術科学大学
-
余川 奈保美
長岡技術科学大学
-
岡上 久美
長岡技術科学大学
-
濱崎 勝義
長岡技術科学大学
-
末松 久幸
長岡技術科学大学
-
王 鎮
独立行政法人情報通信研究機構
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