Behaviors of Auger Intensities Emitted from a Si(111)〔ルート3〕×〔ルート3〕-Al Surface During Incident Beam Rocking of Reflection High-Energy Electron Diffraction
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人応用物理学会の論文
- 1998-02-01
著者
-
Horio Yoshimi
Department of Applied Electronics, Daido Institute of Technology
-
堀尾 吉巳
工学部 電気電子工学科
-
Horio Yoshimi
Department Of Applied Electronics Daido Institute Of Technology
関連論文
- 自作電子衝撃加熱装置による高融点チタン金属の真空蒸発
- 自作電子衝撃加熱法を用いたチタン薄膜の形成
- 微傾斜表面からのRHEED菊池図形
- アストロドームRHEEDからの回折図形
- 環境浄化光触媒物質の結晶性薄膜成長とその有機分解能力に関する研究
- エネルギーフィルター型RHEED-AESによる表面研究
- RHEED波動場によるオージェ電子強度変化
- Si(111) 7×7 基板上に成長する CaF_2 薄膜表面形態の AFM 観察
- EF-RHEED図形内の微傾斜Si(001)表面ステップ情報
- エネルギーフィルター型RHEED図形内の振動相関熱散漫散乱
- Si(111)7×7表面上のCaF_2成長のRHEED観察
- 微傾斜Si(001)表面からのEF-RHEED図形
- Different Growth Modes of Al on Si(111)7×7 and Si(111)√×√ -Al Surfaces
- RHEED結晶内電子波動場による選択的表面原子位置解析法の研究
- Behaviors of Auger Intensities Emitted from a Si(111)〔ルート3〕×〔ルート3〕-Al Surface During Incident Beam Rocking of Reflection High-Energy Electron Diffraction
- Observation of Vicinal Si(111)7×7 Surface by Energy-Filtered Reflection High-Energy Electron Diffraction
- エネルギーフィルター型RHEEDから得られる新情報
- Development of Energy-Filtered Reflection High-Energy Electron Diffraction Apparatus
- Zero-Loss Reflection High-Energy Electron Diffraction Patterns and Rocking Curves of the Si(111)7×7 Surface Obtained by Energy Filtering
- Phase Shift and Frequency Doubling on Intensity Oscillations of Reflection High-Energy Electron Diffraction : One-Beam Dynamical Calculations for Ge on Ge(111) Surface
- RHEEDによるナノクラスタの形態評価
- Surface Morphology of Growing Al on Si(111)7×7 and Si(111)√×√-Al Substrates by Reflection High-Energy Electron Diffraction
- Temperature Dependence of Oxygen Diffusion and Crystal Structure for Thermally Oxidized Titanium Thin Films
- Auger Intensity from Si(001)$2{\times}2$–Al Surface Excited by Wave-Field in Medium-Energy Electron Diffraction
- Dimer Configuration of Si(001)2×1 Surface by Projected Potential Approach of Reflection High-Energy Electron Diffraction