C-12-1 MOSFETに特性の変動の統計的測定のための回路

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2001-08-29

著者

• 松岡 俊匡

  大阪大学大学院工学研究科

• 谷口 研二

  大阪大学大学院工学研究科

• 中村 光男

  大阪大学大学院工学研究科

• 清水 由幸

  大阪大学大学院工学研究科

• 清水 由幸

  大阪大学

• 中村 光男

  大阪大学

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