高精度品質保証期限モニタ回路
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概要
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弱反転領域におけるMOSFETのドレーン電流をもとに物質の活性化エネルギーを擬似的に作りだしその物質の劣化度をモニタする回路を提案する.安価で低消費電力のCMOSプロセスを用いてあらゆる製品に付加して劣化度をモニタすることができることをシミュレーションにより確認した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-09-01
著者
-
松岡 俊匡
大阪大学大学院工学研究科
-
谷口 研二
大阪大学大学院工学研究科
-
井戸 徹
大阪大学
-
井戸 徹
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社
-
廣瀬 哲也
大阪大学大学院工学研究科電子情報エネルギー工学専攻
-
吉村 隆治
日本テキサスインスツルメンツ株式会社
-
吉村 隆司
大阪大学 工学部 電子情報エネルギー工学科
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