アナログ伝送用エルビウムドープ光ファイバのレーリー散乱による雑音
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概要
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近年,エルビウムドープ光ファイバ増幅器(EDFA)を用いたアナログ光映像伝送システムのアクセス系への導入が検討されているが,アナログ光伝送の場合,わずかな反射による雑音増加を許容できない.一方,EDF内のレーリー散乱の多重反射によっても光増幅特性が劣化することが知られている.今までに,EDFのレーリー散乱量が,AI濃度依存,比屈折率差△依存,EDF長(Er濃度)依存を持つことが検討されているが,AI濃度,△,EDFの長さ(Er濃度)とレーリー散乱量や雑音との関係について,総合的には,検討されてない.今回,EDF内のレーリー散乱量およびレーリーの多重反射により発生する相対強度雑音(RIN)について総合的に検討し,アナログ伝送に適するEDFを実験的に明らかにする.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-09-18
著者
-
佐々木 亮
沖電気工業株式会社
-
式井 滋
沖電気工業株式会社
-
和田 朗
株式会社フジクラ
-
式井 滋
古河電気工業株式会社
-
酒井 哲弥
株式会社フジクラ光電子技術研究所
-
酒井 哲弥
株式会社フジクラ 光電子技術研究所
-
和田 朗
(株)フジクラ光電子技術研究所
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