PANDAファイバグレーティングを用いた温度-歪み同時計測
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概要
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PANDAファイバグレーティングを用いて, 温度-歪みの同時計測が可能なセンスを試作した.slow軸, fast軸それぞれの反射波長の温度依存性, 張力依存性が異なることを利用し, これらの波長の測定値から温度, 歪みを同時に求めることができる.温度範囲50〜100℃, 歪み範囲270〜110μεにおいて, 温度精度±3℃, 歪み精度±20μεで温度-歪みの同時計測が可能であることがわかった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-02-12
著者
-
和田 朗
株式会社フジクラ
-
姫野 邦治
株式会社フジクラ 光電子技術研究所
-
須藤 正明
株式会社フジクラ光電子技術研究所
-
姫野 邦治
株式会社フジクラ光電子技術研究所
-
姫野 邦治
(株)フジクラ
-
山内 良三
(株)フジクラ光電子技術研究所
-
山内 良三
株式会社フジクラ光エレクトロニクス研究所光通信研究部
-
山内 良三
株式会社フジクラ
-
山内 良三
フジクラ
-
須藤 正明
株式会社フジクラ 光電子技術研究所
-
中居 道広
株式会社フジクラ 光電子技術研究所
-
中居 道弘
(株)フジクラ 光電子技術研究所
-
中居 道弘
株式会社フジクラ 光エレクトロニクス研究所
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