決定論的遅延故障BISTの最適シード決定法
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概要
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遅延故障検出BISTにおいて, 効果的にロバストテストパターンを生成できる手法に, 初期ベクトルの各ビットを次々に1ビットずつ反転させていく隣接テストがある.従来, 隣接テストを使用したパス遅延故障検出BISTにおいて, 初期ベクトル生成部にLFSRを使用しているため入力数が30本程度以上の回路に対して適用できないという問題があった.本研究で提案する手法は, 全テストパターンを含む最小数の隣接テストの初期ベクトル(シード)集合を, 決定論的に生成することにより, 高い故障検出率, 短いテスト時間を実現できるアルゴリズムを提案する.シミュレーションの結果1シード当たり25.4個のテストパターンを含むことが示された.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-11-22
著者
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