D-10-4 SEU/SET対策FFを用いた遅延故障テスト容易化スキャン構造(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2008-03-05

著者

• 池田 卓史

  千葉大学大学院自然科学研究科

• 難波 一輝

  千葉大学大学院融合科学研究科

• 伊藤 秀男

  千葉大学大学院融合科学研究科

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