二線式論理を用いたFPGAのソフトエラーに対するフォールトセキュア性(フォールトセキュア・セキュリティ・2線2相回路のテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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近年,回路の微細化,高集積化に伴いソフトエラー発生率が増加している.ソフトエラーが記憶素子に発生した場合,新しい値が書き込まれるまで誤った値が保存されるため,システムに障害を引き起こす原因となる.また,製品の開発サイクルの短期化により回路の開発期間の短期化が求められている.そのため,内部の論理を任意に設定することができ,その特徴から回路の開発期間を短期化することができる半導体デバイスであるFPGA(Field Programmable Gate Array)が注目されている.現在主流のFPGAは構成要素に多数のSRAMを用いている.SRAMにソフトエラーが発生した場合,反転した値が保存されFPGAは故障状態になる.そのため,FPGAに対するソフトエラー対策は重要であり,近年様々な研究が行われている.回路の信頼性を向上させる手法として二線式論理がある.二線式論理を用いて構成された論理回路は単一ソフトエラーに対してフォールトセキュアであるという特徴がある.しかし,FPGA上で構成された二線式論理回路のフォールトセキュア性については明らかではなかった.そこで,本論文ではFPGAに対して二線式論理を用いて回路を実装した場合のフォールトセキュア性について調査を行い,単一ソフトエラーに対するフォールトセキュア性を有することを明らかにした.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-02-01
著者
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