遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
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概要
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本論文では,遅延故障テスト容易化フリップフロップ(以下FFと略記)方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法を提案する.提案テスト圧縮法は,遅延故障テスト容易化FFの構造を利用したテストデータ圧縮(1段階目圧縮)を行い,予めテストデータ量を削減する.その後削減されたデータにさらにテストデータ圧縮(2段階目圧縮)をかけることにより,2段階のテストデータ圧縮を行う.評価実験において,パフマン符号によるテストデータ圧縮法を2段階目圧縮に用いて提案圧縮法を適用した場合,従来法の場合と比較して,ATEに格納するテストデータ量を最大で37.1%,平均で26.0%削減できることを確認した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-11-13
著者
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