パーシャルスキャン化順序回路の内部状態到達率
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概要
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VLSIのテスト容易化設計の一つとしてフリップフロップ (FF) に任意の論理値の設定および論理値の観測ができるようにするスキャン化設計がある. 現在, スキャン化設計のうち一部のフリップフロップを選択してスキャン化するパーシャルスキャン化設計が注目されている. しかし, スキャン化するFFをどのような基準にもとづいて選択するかに関しては十分な研究がなされていない. ここでは, スキャン化するFF選択基準の最適化のための予備調査を行った結果に関して発表する. スキャン化FF数と内部状態到達率 (どれだけの内部状態が実現可能か) の関係に着目し, ISCAS'89ベンチマーク回路を用いてシミュレーションを行った結果を報告する. なお, 本発表では内部状態はFFの論理値の組合せによって表現されているものとする.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-06
著者
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