C-12-8 感熱色素膜を用いたLSIリーク故障解析 : 光吸収法(DTI)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-03-08
著者
-
中村 信二
Ntt エレクトロニクス(株)
-
伴 弘司
Ntt生活環境研究所
-
伴 弘司
NTT システムエレクトロニクス研究所
-
小峰 行雄
NTT システムエレクトロニクス研究所
-
竹田 忠雄
NTT システムエレクトロニクス研究所
-
小峰 行雄
日本電信電話株式会社 Ntt通信エネルギー研究所
-
竹田 忠雄
Nttコミュニケーションズ株式会社
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