故障解析用LSIテストシステム
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概要
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テストコストを上昇させることなく、LSIの故障解析環境を向上させるため、我々は故障解析に特化した低コストのLSIテストシステムを開発した。本システムには、Iddq測定機能とEBテスティング、発光・発熱解析のための支援機能が装備されている。更に、各種故障解析装置で共通に使用できる治具を開発した。本報告では、故障解析用LSIテストシステムの概要と故障解析事例について述べている。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-14
著者
-
中村 信二
Ntt エレクトロニクス(株)
-
竹田 忠雄
日本電信電話株式会社NTT生活環境研究所
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中村 信二
日本電信電話株式会社システムエレクトロニクス研究所
-
丹野 雅明
日本電信電話株式会社 システムエレクトロニクス研究所
-
久慈 憲夫
日本電信電話株式会社 システムエレクトロニクス研究所
-
竹田 忠雄
Nttコミュニケーションズ株式会社
-
竹田 忠雄
日本電信電話(株) システムエレクトロニクス研究所
-
久慈 憲夫
Nttエレクトロニクス株式会社lsi事業本部saセンタ
-
中村 信二
日本電信電話公社
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