フルスキャンテスト対応のIddq故障解析システム
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概要
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超50Kゲート級のディジタルLSIでは、出荷テスト品質向上のため、スキャンテスト回路の導入が主流となっている。Iddq測定に於いても、スキャン回路を活用することで内部回路の制御性が向上し、電流経路の絞り込み、故障解析の分解能向上に有効である。そこで、LSI評価用主要測定機(LSIテスタ、EBテスタ、発光発熱解析装置)をベースに、Iddq測定器、簡易機能テスタ、スキャンテスト支援ソフトを統合したフルスキャン対応のIddq計測システムを構築し、故障解析に効果を上げたので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-09-18
著者
-
寺元 光生
Ntt Lsi研究所
-
久慈 憲夫
NTT LSI研究所
-
竹田 忠雄
NTT LSI研究所
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小峰 行雄
NTT LSI研究所
-
丹野 雅明
NTT LSI研究所
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小峰 行雄
日本電信電話株式会社 Ntt通信エネルギー研究所
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竹田 忠雄
Nttコミュニケーションズ株式会社
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久慈 憲夫
Nttエレクトロニクス株式会社lsi事業本部saセンタ
-
丹野 雅明
Ntt Lsi研
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