多ピンMCM用移動プローブ型テストフィクスチャ
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概要
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1000ピン規模の多ピンMCMの機能テストをLSIテスタにて実行する場合、LSIテスタのチャネル数が不足するため、MCMを分割テスト可能な構造にすると共に信号線切替機構をMCM・テスタ間に設ける必要がある。本報告では、信号劣化が少なく切替容易な移動プローブ式テストフィクスチャについて述べる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-03-27
著者
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