W帯MMIC用0.15μm InGaP/InGaAs HEMTの試作

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1998-03-06

著者

• 富岡 健

  株式会社富士通研究所

• 二瓶 瑞久

  富士通研究所(株)

• 牧山 剛三

  株式会社富士通研究所

• 牧山 剛三

  富士通研究所

• 二瓶 瑞久

  株式会社富士通研究所

• 渡邉 祐

  株式会社富士通研究所

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