IC/LSIのEMC特性測定における電源系デカップリング
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概要
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本稿ではIECのSC47A/WG9で検討中のIC/LSIのEMC特性測定法の現状について述べ、さらにそのうちの「磁界プローブ法」とこれを用いたIC/LSIの電源系のモデル化に関連して、DUT以外のインピーダンスの影響を低減するための試験基板の回路構成について議論する。提案した2段階デカップリング回路を用いることにより、測定回路外部に流れ出す電流を-50dB以下に低減できることを示す。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-12-22
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