CoCr系単層垂直媒体のノイズ特性の膜厚依存性
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概要
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CoCr_19Pt_10及びCoCr_17Ta_4単層垂直媒体のノイズ特性を磁性層の膜厚をパラメータとして検討した。その結果、膜厚25nmで媒体S/Nが最大となった。MRヘッドで測定されるノイズの大きさはMFMで観察される磁区のサイズと良い相関があり、ノイズを低減するためには磁区を小さくすることが必要であることがわかった。また、ノイズ低減が期待された角形比Mr/Msが1に近い媒体でも、MFMで磁化の不均一性が観察され、Mr/Msを1に近づけるだけでは低ノイズ化の必要十分条件とはなっていないことがわかった。さらなる低ノイズ化を図るためには、垂直媒体の磁化構造を解明する必要がある。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-06-11
著者
-
本多 幸雄
(株)日立製作所中央研究所
-
二本 正昭
株式会社日立製作所中央研究所
-
本多 幸雄
株式会社日立製作所中央研究所
-
二本 正昭
(株)日立製作所・中央研究所
-
伊藤 研也
日立製作所中央研究所
-
伊藤 研也
(株)日立製作所中央研究所
-
平山 義幸
(株)日立製作所 研究開発本部 ストレージテクノロジー研究センタ
-
平山 義幸
日立
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