電子機器用プリント基板の誤動作箇所検出システムの開発
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概要
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電子機器の静電気放電試験に対するイミュニティ対策のため, プリント基板の中の誤動作箇所を効率的に検出するシステムを開発した. 静電気放電試験機の放電ガンに接続した小型導体平板を, 供試体であるプリント基板の近傍に対向させ, プリント基板に局所的な電磁界を印加する. この際, 9cm, 3cm, 1cm四方の導体平板によって印加範囲を段階的に小さくし, イミュニティレベルの低い箇所を効率的に絞り込む. 本論文は, 導体平板サイズによる影響, 導体平板サイズを変えることで電磁波の範囲を絞り込めることの実験的確認, 実機での有効性について検証する. マイクロストリップ線路を供試体とした場合, ストリップ線路に誘起された電圧波形は, 導体平板サイズにより, 受信波形やピーク電圧レベルが微妙に違ったが, いずれの導体平板も, 静電気放電試験機の設定電圧と誘起されるピーク電圧レベルは比例関係であることを確認した. 供試体の伝送路と導体平板が重なっている間は, それ以外のときに比べ, 非常に結合状態が強いことを確認した. また, 実機での検証では, 複数の誤動作原因を特定できた. そして, その結果は, IEC 61000-4-2試験と相関性を確認することができた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-08-01
著者
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